DIC - 非接觸式應變量測系統

  • 透過測量一個區域內的多個點來分析應變量
  • 非接觸式測量,不需再使用應變規 (Strain Gage)
  • 無物體尺寸、固定點等限制
  • 分析過程迅速


本公司以多年的專業影像技術及經驗來提供的拍攝架構,包括高速相機、鏡頭、光源等,以符合客戶的需求及應用。目前和多種產業及實驗室合作,應用領域如手機、PCB電路版摔落測試、震動測試等

Digital Image Correlation (DIC) 是一種非接觸式光學測量技術,廣泛應用於工程、材料科學和生物力學領域,用於分析材料和結構在各種條件下的變形、應變和位移。

DIC 的原理

比較測試物件變形前後表面的數位影像。高解析度相機捕捉這些影像,專門的軟體分析它們之間的差異,以計算表面位移和應變。

  • 表面圖案:物體的表面必須具有隨機的、高對比的圖案(如散斑圖案)。如果天然紋理不足,可以採用人工圖案(例如噴漆或黏合斑點)。
  • 影像擷取:一個攝影機或多個攝影機捕捉物體在不同變形階段的影像。
  • 相關演算法:該軟體將影像劃分為小區域(稱為子集),並使用相關演算法追蹤它們在影像之間的移動。
  • 輸出:結果是物體表面位移和應變的全場圖。

DIC 的相關應用

  • 結構測試:分析橋樑、建築物和其他結構的變形。
  • 材料測試:表徵金屬、聚合物和複合材料的機械性質。
  • 生物力學:研究骨骼、軟組織或義肢的應變模式。
  • 航空航太:在高應力條件下測試零件,例如機翼和渦輪葉片。
  • 研究與開發:研究新型材料及其在負荷下的行為。

優點

  • 非接觸式:與物體沒有物理連接,防止干擾。
  • 全場測量:與應變儀等基於點的方法不同,提供整個表面的詳細變形圖。
  • 高精度:捕獲微米級位移和應變。
  • 多功能:適用於複雜的幾何形狀和各種材料,無論尺寸為何。
  • 設定簡單:只需要相機、光源和軟體。
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